HI-Q射频测试测量系统 返回列表页

美国OEwaves公司的Hi-Q射频测试测量系统利用微波光子学技术自动测量超低相位微波信号源。Hi-Q射频测试测量系统测试速度快、*自动化，且在的频段的任何工作频率产生一个射频或微波信号源的相位噪声谱密度。

该射频测试测量系统在宽频段测量上有其性，无需额外的低噪声参考源或下变频器，这与常规的零差法所要求的*不同。该系统操作简单、方便、快速、精度高。

通过与美国国家标准与技术研究院测量系统比较，下图给出了经过校准的该测试测量系统的互相关性能。

▪ 超低相位/频率噪声测量

▪ 快速实时测量

▪ 全自动化

▪ 互相关零差法能力

▪ 不需要低噪声噪声参考信号源

▪ 用户友好界面

▪ 简单的笔记本电脑操作

▪ 6Ux 19英寸机架系统

▪ 可定制的配置，

▪ 升级和选项