产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
博曼——膜厚测试仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
博曼——膜厚测试仪应用范围
* 测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
* 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 组成成分分析时可同时测定24种元素;
* 镀液中元素含量分析;
* 元素光谱定性分析;
* 基材分析;
生产商及仪器型号:
制造商:美国BOWMAN公司
原产地:美国
型 号:BA 100
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