梅特勒-托利多电子天平MS205DU 半微量天平
无论是简单的日常工作，还是复杂的称量程序，NewClassicMS梅特勒-托利多电子天平MS205DU半微量天平将的性能和提高生产力进行了*的结合，这一切都来源于快速的稳定时间以及一贯的可靠结果。来自瑞士的高分辨率称量技术（HRT），保证了整个称量范围内的始终精确。创新左右手互换开关门梅特勒-托利多电子天平MS205DU使样品的称量尽可能简单和方便。内置日期和时间功能，进行符合GLP/GMP规范的打印输出，确保您的研究的全面控制和可追溯性。
梅特勒-托利多电子天平MS205DU技术参数：
极限值：
zui大量程1：220克，可读性0.1mg
zui大量程2：82克，可读性0.01mg
重复性（额定负载）1）：0.08毫克（200克）
重复性（低负荷）1）：
线性偏差：0.2毫克
灵敏度偏移量2）：0.8毫克（200克）
梅特勒-托利多电子天平MS205DU典型值：
重复性（额定负载）1）：0.07毫克（200克）
重复性（低负荷）1）：0.015毫克（20克）
zui低重量（根据美国药典）：45毫克
zui小重量（@u= 1％，2个标准差）：3毫克
典型稳定时间：4s/8s
灵敏度偏移量2）：0.6毫克（200克）
梅特勒-托利多电子天平MS205DU尺寸：
秤盘尺寸（mm）：直径80
天平外形尺寸长宽高（mm）：358x247x331
