北京众星联恒科技有限公司
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X射线CMOS平板探测器
产品介绍： 1412HR-NDT是一款大面积的平板X射线探测器专门设计的用于无损检测系统和科学成像应用，它的基本结构为一个数字化的CMOS芯片粘接到radiation-hard的光纤面板（FOP）一侧，FOP另外一侧直接连接一块厚度为250 µm CsI的闪烁体。 探测器像素尺寸为50µm，分辨率为2800×2400，14bit数字化输出，具有两种增益模式，通过选择像素的增益，探测器可以工作于低噪声单发模式和高灵敏度实时模式。全分辨率读出帧率高达29FPS，非常适用于实时监测和工业CT。可设置的感兴趣区域，使得探测器可以在更高的帧率下工作，在4cm的区域下帧率高达90fps。像素尺寸 50μm×50μm 最小ROI尺寸 2 rows 分辨率 2800×2400 读出结构 卷帘快门 有效区域 14cm×12cm 传感器温度范围 -20℃-100℃ 传感器类型 CMOS数字传感器，14bit 无损读出模式 可选 增益模式 高增益（快曝光）
低增益（低剂量）同步接口 Sync in（TTL）, sync out（opto-
switch）, SMB sockets闪烁体 250μm CsI 触发模式 连续/软件触发/硬件触发
（同步输入）/自动触发窗口材料 碳纤维，并标记有效探测区域 接口 USB 3.0 C type 帧率（全帧） 29fps 功耗 3.5W 帧率（ROI模式） 14μs/row 工作温度 0-60℃ 
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