组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20
描述
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上,可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓(PCV 或 CD 120)测量。
结合 XCR 20 测量和评定软件,此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
主要优势有:
一个测量站适合两种测量任务
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统(如上文所述)。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
另外,此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说,如有需要,您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
MarSurf XCR 20
包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥
MarWin PC*
TFT 24“ 显示器
MCP 21 手动控制面板
GD 25 驱动单元
MFW 250 B 测头系统套件
PCV 200 驱动单元
标准轮廓校准套件
ST-500 测量立柱
GD 25 和 PCV 联合支架
CT 300 XY 工作台