X射线线阵列探测系统
英国Sens-Tech 公司是X 射线探测器和信号数据采集系统的专业开发商、供应商，其在X 射线线扫描成像和CT 领域拥有丰富且成功的经验和技术。Sens-Tech 的系统集成信号探测、模拟信号放大、数字信号输出于一体，有多种控制功能可选择，可方便的与计算机连接，实现图像或信号的数字化处理。
X射线线阵列探测系统
探测器有硅光电二管阵列和闪烁晶体组成。二管阵列可以是一维或者两维扫描方式， 由具体应用决定。选择探测器需要充分考虑光谱响应、电容、暗电流、灵敏度、探测面积以及串扰的影响，并选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器。并尽可能降低暗噪声，减小偏移量，获得的响应。同时，让各探测单元的探测面积和串扰达到化。
闪烁晶体根据探测能量的不同，厚度和尺寸可以根据用户的要求进行定制。
Sens-Tech 公司目前主要提供四种X 射线数据采集产品：XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列
Sens-Tech 标准产品的参数
材料 | 厚度 | 能量范围 | 每单位能量的信号输出 | 信号衰减时间 | 备注 |
Silicon | 300μm | 5-30keV | zui高，直接转化 | 1us (非偏置) | 光电二管直接探测，不使用闪烁晶体 |
Gadox(Tb) | 0.31mm | 20-100keV | 近似CsI | 2-3ms | 荧光条，无法进行像素分割来防止串扰 |
Gadox A | 0.2mm | 低于Gadox(Tb)20% | ＜1ms | |
Gadox B | 0.4mm | 高于Gadox(Tb)10% | ＜1ms | |
CsI(Tl) | 0.4-4mm | 40-160keV | 光转换效率zui高 | 2个不同的衰减时间， 微妙级 | 像素被分割成阵列，以减少串扰 |
CdWO4 | 2.5-30mm | 150keV-9MeV | 约为CsI的25% | 20us | 像素被分割成阵列，以减少串扰，价格昂贵 |
GOS | 2.9mm | 100-200keV | 20% than CdWO4 | 3us | 抗强辐射 |
