LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪是德国卡尔德意志公司( KARL DEUTSCH )的创立者KARL DEUTSCH先生进行开拓性工作的结晶。
简介
多功能的仪器的准确测量技术,操作简便。该方案通过一个快速解锁代码表示现场升级包括在内。该LEPTOSKOP 2042用于测量非磁性基片上磁性涂层(根据获得DIN EN ISO 2178的厚度),并测量电非导电非磁性涂层的导电基板的厚度涡流方法手段(据了DIN EN ISO 2360 ) 。 在同一个舒适的工具的组合就像一个模拟指针显示为一个类似Windows档案管理和自由选择10种不同语言的厚度值的可靠技术,满足了一项雄心勃勃的用户的所有愿望。 该LEPTOSKOP 2042年,是一个带有电池寿命100小时以上的时间,经济手段。 该仪器记录的操作时间和数量的测量,所以这些重要的参数是正确的测试设备可追查本身。 彩色橡胶保护皮套包括在供货范围和保护与滑带额外的保护功能,在工业环境中的工具。
特点
·大型图形显示48毫米× 24毫米
·校准选项
出厂校准,即刻准备测量
标定未知涂层*
零点校准*
一,多箔校准基底上无涂层*
标定涂层材料*
校准数据可以存储在单独的单独校准文件,可以重新从那里加载
·佳显示模式可选 适应的测量任务*
·输入和限额监测*
·与存储的数据容易档案管理,在Windows(三)
·实用的电脑软件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·统计数字*
·统计评价多 999读数
·小值,大值,平均值,读数,标准差数,限制监控
·当地平均厚度和涂层厚度(通过DIN EN ISO 2808 )
·在线统计,在所有统计值一览
技术参数
串行接口进行数据传输到RS232或USB |
电源,可通过电池,充电电池, USB或电源单元 |
测量范围: | 0 – 20000um(取决于探头) |
测量速度: | 高达每秒2读数 |
存储: | 高。在9999*140文件读数 |
测量不确定度: |
涂层厚度< 100um:1 %的读数+ / - 1um校准后 |
涂层厚度> 100um: 1 .. 3读数+ / - 1um% |
涂层厚度> 1000um: 3 .. 5读数+ / - 10um% |
涂层厚度> 10000um:5阅读+ / - 100um% |
普通型 | | 铁基膜层测厚仪标准套 | 2042F | |
非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042NF | |
铁基/非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042 | |
数据型 | 铁基 | 2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042 EF | |
2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042DF | |
非铁基 | 2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042ENF | |
2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042DNF | |
铁基/非铁基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042 E | |
2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 | 2042 D | |
附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里