TIS 是的数字X射线轮胎扫描检测系统,采用CMOS X射线成像技术,仅10秒种就可完成宽度为1370mm的高精度360°轮胎扫描检测。TIS很容易与现有系统配套,通过专门设计的检测工作站就可以改造原有的Luminex系统。 轮胎转动的同时,高精度图像将实时并自动在计算机的屏幕上滚动,可以随时将图像暂停或打印。 技术参数: 探测器: | CMOS分割相阵,有效区长1370mm,分为5个无缝部分 | 兼容性: | 改造Luminex轮胎检测系统以增加图象质量和系统使用寿命 | 图像精度: | 80μm (.003")/个象素单元,对于轮胎的表面采用高速检测,300-400μm的精度,一般执行13个象素单元 | 灵敏度: | 2-2T | X-射线要求: | 240 kV恒压管 | 扫描速度: | 305mm/s | 图像体积: | 150KB/平方英寸单元像素,单个轮胎图像在13个象素大约4MB | 工作站: | >3.2GHz 工业PC,1GB RAM,120GB双硬盘 | 软件: | 强大的软件包(含X射线图像采集/放大、测量、扫描控制、图像储存、输出及打印) | 电源: | 110-220 V,50-60 Hz,120 W(包括工作站和扫描器的总功率) | 机壳: | 带导轨的灰镀层铝板 |
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