测厚仪，薄膜厚度测试系统

济南思克测试技术有限公司：品牌【SYSTESTER】

仪器检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）

仪器执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353

测厚仪，薄膜厚度测试系统 适用于箔片、薄片、纸张、塑料薄膜、硅片等各种材料的厚度测量。

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THI-1801测厚仪

技术性指标：

测量范围：0～2mm（常规测量）

0～6mm；12mm（纸张可选）

高分 辨 率：0.1μm

测量速度：25次/min（可调）保证数据重复性

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm²（薄膜标配）；200mm²（纸张可选）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

产品特点：

采用的32位嵌入式系统控制技术

思克*的专li技术，扁平化设计，操作直观，操作方便

触摸屏操作更方便

所有试验操作均可在一个界面内完成，无须反复进入退出操作

配备TFT真彩色液晶显示

复合接触式厚度测量

整个测试过程全自动化完成

手动、自动双重测量模式

可采用标准厚度计量工具标定、检验

符合多种标准规定，标准接触面积、测量压力（可定制）

内嵌zui大值、zui小值、平均值、标准差等数据统计分析功能

量程可调（可根据要求定制）

配置微型打印机，可自动打印试验数据

配置标准RS232通信口，利用专业计算机软件可zui大限度地挖掘试验数据价值

可支持以太网通信，方便数据联网（选购）

可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）