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XRW-300HB热变形、维卡软化点测定仪

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更新时间:2018-03-30 13:40:03浏览次数:312

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产品简介

XRW-300HB热变形、维卡软化点测定仪采用采用计算机进行显示操作,控制系统基于第二代ARM Cortex-M3内核的微控制器研发设计,它具采用操作频率高达120MHz性能、低功耗的32位微处理器,性能远高于16位、12MHz单片机,具有大容量闪存、大容量SRAM、丰富的IO端口资源以及其他外设组件,高度集成的测控系统。

详细介绍

XRW-300HB热变形、维卡软化点测定仪
XRW-300HB热变形、维卡软化点测定仪采用采用计算机进行显示操作,控制系统基于第二代ARM Cortex-M3内核的微控制器研发设计,它具采用操作频率高达120MHz性能、低功耗的32位微处理器,性能远高于16位、12MHz单片机,具有大容量闪存、大容量SRAM、丰富的IO端口资源以及其他外设组件,高度集成的测控系统,具有实时性更好、速度更快、稳定性更高的特点,采用了基于Σ-Δ技术的16位无误码数据的AD芯片,*的PID控制算法使控制平稳可靠,基于带CRC校验的主从通讯模式,数据安全可靠,并在试验过程中可时实监控试验温度和变形量;试验结束时系统自动停止加热,并可打印试验报告和试验曲线。该系列机型是各质检单位、大专院校和各企业自检的*仪器。  
    XRW-300HB型具有试样架升降功能,可在试验开始或结束时对试样架进行提升或下降,该机主要用于非金属材料如塑料、橡胶、 尼龙、电绝缘材料等的热变形温度及维卡软化点温度的测定。产品符合IS075(E)、IS0306(E)、GB/T8802、GB/T1633、GB/T1634等标准要求。   

主要技术参数:   
温度控制范围:环境温度—300℃   
升温速率:(120±10)℃/h  (12±1)℃/6min   
           (50±5)℃/h   (5±0.5)℃/6min   
温度示值误差:0.1℃  
温度控制精度:±0.5℃ 
zui大形变示值误差:±0.001mm,   
变形测量范围:0—10mm   
试样架个数:3个   
负载杆及托盘质量:68g   
加热介质:甲基硅油(运动粘度一般选择200厘斯)或变压器油   
冷却方式:150以上自然冷却,150以下水冷或自然冷却。   
加热功率:4kw  
仪器尺寸:540mm×520mm×970mm

配置清单:
序号    名称    单位    数量
1    主机    台    1
2    砝码    套    1
3    维卡用压针    支    3
4    热变形用压头    支    3
5    试样架    架    3
6    安装光盘    盘    1
7    电源线    根    1
8    装箱单    份    1
9    说明书    份    1
10    合格证    份    1
11    联想启天电脑    台    1
12    惠普打印机    台    1
13    甲基硅油    L    10

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